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Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés)
Rodbell, Kenneth P. ; Filter, William F. ; Frost, Harold J.
Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés)
Kenneth P. Rodbell (Ilustrado por) · William F. Filter (Ilustrado por) · Harold J. Frost (Ilustrado por) · Cambridge University Press · Tapa Blanda
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$ 35.58Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés)
Rodbell, Kenneth P. ; Filter, William F. ; Frost, Harold J.
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