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portada Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Autor
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
90
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
23.4 x 15.6 x 0.6 cm
Peso
0.16 kg.
ISBN13
9783319033280
Categorías

Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance (en Inglés)

Kipp Van Schooten (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance (en Inglés) - Van Schooten, Kipp

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