¡Vamos USA, se vive el Mundial! 🇺🇸 / ¡Vamos Brasil, pura pasión!   Ver más

Enviar a
FL
0

Mi Cuenta

  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

menú

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
316
Encuadernación
Tapa Blanda
ISBN13
9783031196416
N° edición
2023rd
Categorías

Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip (en Inglés)

Girard, Patrick ; Blanton, Shawn ; Wang, Li-C (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip (en Inglés) - Girard, Patrick ; Blanton, Shawn ; Wang, Li-C

Libro Nuevo Origen: Estados Unidos
Envío: 14 a 17 días háb.
$ 64.99$ 55.24
-15%
Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 55.24
Llega entre el 14 Jul y el 21 Jul a FL. Seleccionar ubicación

Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista

Ir a Mis Listas
Calcula el costo de envío

Reseña del libro "Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip (en Inglés)"

This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

¿En qué Idioma está escrito el libro?

El libro está escrito en Inglés.

¿Cuál es la encuadernación de este libro?

La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes