Name: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)
Price: 101.27 USD
Availability: InStock
Author: Yin, Xinmao ; Wee, Andrew T. S. ; Tang, Chi Sin
ISBN: 9783527349517

portada Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Xinmao Yin

Andrew T. S. Wee

Chi Sin Tang

Editorial

Wiley-Vch

Año

2022

Idioma

Inglés

N° páginas

208

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

24.4 x 17.0 x 1.1 cm

Peso

0.34 kg.

ISBN13

9783527349517

Categorías

Análisis espectral | espectroquímica
Química física
Ciencia de materiales

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)

Xinmao Yin (Autor) · Andrew T. S. Wee (Autor) · Chi Sin Tang (Autor) · Wiley-Vch · Tapa Blanda

Libro Físico

$ 101.27

$ 202.54

Ahorras: $ 101.27

50% descuento

Cantidad
Estado: Nuevo

Envío normal

Origen: Reino Unido (Costos de importación incluídos en el precio)

Se enviará desde nuestra bodega entre el Lunes 13 de Mayo y el Miércoles 22 de Mayo.

Lo recibirás en cualquier lugar de Estados Unidos entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Reseña del libro "Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)"

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.