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portada failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Autor
Editorial
Año
1997
Idioma
Inglés
N° páginas
358
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
9.29x6.54x1.02 in
Peso
0.62 kg.
ISBN
0471954829
ISBN13
9780471954828
N° edición
0002
Categorías

failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)

E. Ajith Amerasekera (Autor) · Farid N. Najm (Autor) · Wiley · Tapa Dura

failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés) - Amerasekera, E. Ajith ; Najm, Farid N.

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Reseña del libro "failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)"

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

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