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Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)
Vanarajsinh Solanki
(Autor)
·
Abhay Dasadiya
(Autor)
·
Pramita Mishra
(Autor)
·
Edizioni Sapienza
· Tapa Blanda
Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano) - Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
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Reseña del libro "Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)"
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
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El libro está escrito en Italiano.
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