Name: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Procee (en Inglés)
Price: 52.09 USD
Availability: InStock
Author: Bai, Xiao ; Hancock, Edwin R. ; Ho, Tin Kam
ISBN: 9783319977843

portada Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Procee (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Bai, Xiao ; Hancock, Edwin R. ; Ho, Tin Kam

Idioma

Inglés

N° páginas

524

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 2.8 cm

Peso

0.75 kg.

ISBN13

9783319977843

Categorías

Aplicaciones gráficas y multimedia
Algoritmos y estructuras de datos
Reconocimiento de formas
Visión por ordenador

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Procee (en Inglés)

Bai, Xiao ; Hancock, Edwin R. ; Ho, Tin Kam (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Procee (en Inglés)"

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018.The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods.

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