Compartir
microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)
Edward B. Hakim
(Autor, Introducción de, Prefacio de)
·
Artech House Publishers
· Tapa Dura
microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés) - Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B.
$ 138.68
$ 155.00
Ahorras: $ 16.32
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis ListasSe enviará desde nuestra bodega entre el
Lunes 24 de Junio y el
Martes 25 de Junio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Estados Unidos entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)"
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.
