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portada Energy-Efficient Smart Temperature Sensors in Cmos Technology (Analog Circuits and Signal Processing) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2017
Idioma
Inglés
N° páginas
118
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9783319623061
N° edición
1

Energy-Efficient Smart Temperature Sensors in Cmos Technology (Analog Circuits and Signal Processing) (en Inglés)

Varios Autores (Autor) · Springer · Tapa Dura

Energy-Efficient Smart Temperature Sensors in Cmos Technology (Analog Circuits and Signal Processing) (en Inglés) - Varios Autores

Libro Físico

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Reseña del libro "Energy-Efficient Smart Temperature Sensors in Cmos Technology (Analog Circuits and Signal Processing) (en Inglés)"

This book describes the design and implementation of energy-efficient smart (digital output) temperature sensors in CMOS technology. To accomplish this, a new readout topology, namely the zoom-ADC, is presented. It combines a coarse SAR-ADC with a fine Sigma-Delta (SD) ADC. The digital result obtained from the coarse ADC is used to set the reference levels of the SD-ADC, thereby zooming its full-scale range into a small region around the input signal. This technique considerably reduces the SD-ADC's full-scale range, and notably relaxes the number of clock cycles needed for a given resolution, as well as the DC-gain and swing of the loop-filter. Both conversion time and power-efficiency can be improved, which results in a substantial improvement in energy-efficiency. Two BJT-based sensor prototypes based on 1st-order and 2nd-order zoom-ADCs are presented. They both achieve inaccuracies of less than +/-0.2 DegreesC over the military temperature range (-55 DegreesC to 125 DegreesC). A prototype capable of sensing temperatures up to 200 DegreesC is also presented. As an alternative to BJTs, sensors based on dynamic threshold MOSTs (DTMOSTs) are also presented. It is shown that DTMOSTs are capable of achieving low inaccuracy (+/-0.4 DegreesC over the military temperature range) as well as sub-1V operation, making them well suited for use in modern CMOS processes.

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El libro está escrito en Inglés.
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